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安柏AT5110多路電阻測(cè)試儀是全新設(shè)計(jì)的高精度寬量程、多路電阻測(cè)試儀，可以對(duì)10路電阻進(jìn)行掃描測(cè)試。采用高性能ARM微處理器控制。真彩3.5吋液晶可同時(shí)顯示10路電阻值，并且每個(gè)通道可以單獨(dú)設(shè)置比較器，AT5110可以測(cè)試1μΩ～30KΩ的電阻，Z大顯示30,000數(shù)。同時(shí)還具有標(biāo)配的溫度補(bǔ)償功能可以適應(yīng)不同要求的測(cè)試。應(yīng)用于自動(dòng)化設(shè)備，可使用RS232C及HANDLER接口輸出GD/NG信號(hào)

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安柏AT5108多路電阻測(cè)試儀是全新設(shè)計(jì)的高精度寬量程、多路電阻測(cè)試儀，可以對(duì)8路電阻進(jìn)行掃描測(cè)試。采用高性能ARM微處理器控制。真彩3.5吋液晶可同時(shí)顯示10路電阻值，并且每個(gè)通道可以單獨(dú)設(shè)置比較器，AT5108可以測(cè)試1μΩ～30KΩ的電阻，Z大顯示30,000數(shù)。同時(shí)還具有標(biāo)配的溫度補(bǔ)償功能可以適應(yīng)不同要求的測(cè)試。應(yīng)用于自動(dòng)化設(shè)備，

型號(hào)：AT510X6

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AT510X6 多路直流電阻測(cè)試儀是一種高精度寬量程、超高掃描速度、采用高性能微處理器控制的多路電阻測(cè)試儀。為您量身定做的多路電阻測(cè)試儀，定制量程，從1μΩ～400KΩ，Z大顯示3999數(shù)。受益于安柏*的電阻測(cè)量技術(shù)，使得多路測(cè)試周期高達(dá)20ms/次，AT510X6 6路電阻測(cè)試儀為您提供每秒鐘高達(dá)120個(gè)器件的測(cè)試。配備Handler接口，將多路測(cè)試結(jié)果同時(shí)輸出給PLC。

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安柏AT511C低電阻測(cè)試儀毫歐表是一種經(jīng)濟(jì)實(shí)用型的直流低電阻測(cè)試儀，是 AT511M 的升級(jí)版本。 AT511C 相對(duì)于前代產(chǎn)品 AT511M，具有更廣的測(cè)試范圍：0.1mΩ～50.00kΩ，Z大顯示 5000 數(shù)。同時(shí)提升了測(cè)試速度：Z快可達(dá) 10 次/秒且讀數(shù)穩(wěn)定。改良的全自動(dòng)量程測(cè)試電路，全電子開(kāi)關(guān)的設(shè)計(jì)，可瞬間完成從Z高量程到Z低量程的切換。

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安柏AT2511毫歐表低電阻測(cè)試儀是一種經(jīng)濟(jì)實(shí)用型的直流低電阻測(cè)試儀，是AT511A的升級(jí)版本。 AT2511相對(duì)于前代產(chǎn)品AT511A，具有更廣的測(cè)試范圍：0.01mΩ～200.0kΩ，Z大顯示5000數(shù) 。同時(shí)提升了測(cè)試速度：Z快可達(dá)10次/秒且讀數(shù)穩(wěn)定。改良的全自動(dòng)量程測(cè)試電路，全電子開(kāi)關(guān)的設(shè)計(jì)，可瞬間完成從Z高量程到Z低量程的切換。

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安柏AT516L毫歐表低電阻測(cè)試儀低電阻測(cè)試儀采用高性能 ARM 微處理器控制和高密度SMD貼裝工藝，具有 0.1%的準(zhǔn)確度和 1μΩ~30KΩ的測(cè)量范圍。電阻值以5位顯示，具有 30000 讀數(shù)，適用于繼電器接觸電阻、接插件接插電阻、導(dǎo)線電阻、印制板線路及焊孔電阻等；AT516L標(biāo)配RS232通訊接口，可方便用于PLC通訊控制實(shí)現(xiàn)生產(chǎn)線上的自動(dòng)化操作